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涂層測厚儀leeb230膜厚儀

更新時間：2025-01-16

簡要描述：

涂層測厚儀leeb230膜厚儀
采用磁性測量方法，可無損地檢測磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度（如鋼鐵合金和硬磁性鋼上的鋁、鉻、銅、鋅、錫、橡膠、油漆等）。

廠商性質：代理商瀏覽量：3029

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涂層測厚儀leeb230膜厚儀

【主要功能】

采用磁性測量方法，可無損地檢測磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度(如鋼鐵合金和硬磁性鋼上的鋁、鉻、銅、鋅、錫、橡膠、油漆等)。

● 全中文菜單；

● 兩種工作方式；

● 數據刪除功能；

● 對界限外的測量值能自動報警；

● 電源欠壓指示；

● 手動和自動兩種關機方式

● 兩種測量方式；

● 可儲存500個測量值；

● 可設置界限；

涂層測厚儀leeb230膜厚儀

【技術參數】

項目名稱		Leeb230
測頭類型		F1
測量原理		磁感應
測量范圍		0 ~ 1250um
分辨率		0.1um
示值誤差	一點校準	±（3%H+1）um
	二點校準	±[（1~3）%H+1]um
測試條件	zui小曲率半徑	凸1.5mm 凹9mm
	zui小面積直徑	φ7mm
	基本臨界厚度	0.5mm
工作環境	溫度	0 ~ 40℃
	濕度	20% ~ 90%
電源		AAA堿性電池2節
電壓		3V
工作時間		100小時
外形尺寸		1307025 mm
重量		350g
外殼材質		金屬外殼
標準配置		主機、標準試片、基體、F1探頭、堿性電池
可選配件		標準試片、探頭
PC通訊		有

儀器選用探頭的技術數據

探頭

F400

F1/90

F10

N400

CN02

測量原理

磁性

渦流

測量范圍（μm）

0～400

0～1250

0～10mm

0～400

0～12500

10～200

測量精度μm

一點校準

±[(1～3)%H+0.7]

±（3%H+1）

±（3%H+10）

±（3%H+1）

±（3%H+1.5）

H+1)

二點校準

±（1～3％H+0.7）

H+1]

±[(1～3)%H+10]

±[(1～3)%H+1]

±[(1～3)%H+1.5]

---

低限分辨率

0.1

zui小曲率半徑(mm)

(凸)1

1.5

平直

1.5

僅為平面

zui小面積直徑(mm)

￠3

￠7

￠40

￠4

￠5

￠7

基本臨界厚度(mm)

0.2

0.5

0.3

無限制

測頭選用參考表

覆蓋層基體		有機材料等非磁性覆蓋層（如：漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽極化處理等）		非磁性的有色金屬覆蓋層（如：鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等）
		覆蓋層厚度不超過100μm	覆蓋層厚度超過100μm	覆蓋層厚度不超過100μm	覆蓋層厚度超過100μm
如鐵、鋼等磁性金屬	被測面積直徑大于30mm	F400型測頭0～400μm F1型測頭 0～1250μm	F1型測頭 0～1250μm F10型測頭 0～10μm	F400型測頭0～400μm F1型測頭 0～1250μm	F1型測頭 0～1250μm F10型測頭 0～10μm
	被測面積直徑小于30mm	F400型測頭0～400μm	F400型測頭0～400μm F1型測頭 0～1250μm	F400型測頭0～400μm	F400型測頭0～400μm F1型測頭 0～1250μm
如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等有色金屬	被測面積直徑大于10mm	N1型測頭0～1250μm N400測頭0～400μm		僅用于銅上鍍鉻N1型測頭0～40μm N400測頭0～40μm
	被測面積直徑大于10mm	N400測頭0～400μm		N400測頭0～40μm
塑料、印刷線路非金屬基體	被測面積直徑大于7mm	--	--	CN02型測頭10～200μm